電解質を液体から固体に変えた全固体電池は、液漏れによる発火の心配がなく、高温・高圧下などの極限環境でも安全に使用できることから、次世代の二次電池として注目されています。しかし電極/固体電解質界面における大きな界面抵抗や繰り返し使うことで生じる亀裂の発生など、実用化に向けた課題が残っており、課題解決に向けて、電池内の反応・劣化挙動の解明が必須となります。これまで、電子顕微鏡を用いた局所的な高空間分解能観察が多数報告されていますが、空間分解能を維持しつつも電池全体を一度に観察し、各要素の反応・劣化挙動を詳細かつ総合的に解析することは一度の計測実験では困難でした。
　東北大学国際放射光イノベーション・スマート研究センターの石黒志助教と高橋幸生教授、東北大学大学院工学研究科の戸塚務大学院生(当時)と上松英司大学院生、名古屋大学の入山恭寿教授、ファインセラミックスセンターの山本和生主席研究員、高輝度光科学研究センターの関澤央輝主幹研究員らの研究グループは、大型放射光施設「SPring-8」^（注1）で全視野結像型透過X線顕微鏡−X線吸収微細構造(TXM−XAFS)測定^（注2,3）のもつ空間分解能及び視野サイズと、薄膜型全固体電池の断面スケールが適合することに注目し、充放電過程における正極−電解質−負極層の化学状態変化を同一視野内で“丸ごと”可視化することに初めて成功しました。
　電子顕微鏡やX線タイコグラフィ^（注4）などの高空間分解の顕微分光計測とTXM−XAFS法のような広域測定、電池全体の詳細かつ総合的な観察を通して、充放電に伴う化学状態の変化や劣化についての理解が進み、電池性能向上への貢献が期待できます。
　本研究成果は2023年8月1日、米化学会が刊行する材料科学専門誌ACS Applied Energy Materialsオンライン版に掲載されました。

　詳細な説明　

　全固体電池は、固体電解質を使用するため液漏れによる発火の心配がなく、高温・高圧下などの極限環境で使用でき、目的に応じて比較的自由に形状を構成可能なことから、次世代の二次電池として注目されています。しかし、充放電サイクルの繰り返しによる電極のクラックや不活性層の発生、電極−固体電解質界面での大きな界面抵抗など、実用化までに解決すべき課題を依然として抱えています。全固体電池には大きく分けてバルク型と薄膜型の2種類のタイプがあります。薄膜型は電極と電解質の材料を蒸着等によって基板上にきれいに積層して製造できます。そのため大容量化は難しいですが、サイクル寿命が優れ、センサーなどの小型デバイスでの使用が想定されています。さらに均一な積層構造を持つことから電極、電解質、とその界面で起こる現象のメカニズムを理解するためのモデル試料として使用されています。
　そこで近年、全固体電池実用化を阻む課題を解決するために、薄膜型電池試料を用いて、顕微鏡と分光法を組み合わせた顕微分光法による研究アプローチが進められています。例えば、走査型透過電子顕微鏡（STEM）を用いた電子エネルギー損失分光法（EELS）では、電極−固体電解質界面付近のナノメートル(nm)オーダーの元素や化学状態の分析が可能になっています。
　しかしSTEM 観察では、試料を電子線が透過する厚さ100 nm 以下まで薄くする必要があります。また空間分解能と観察視野の広さとの間にはトレードオフの関係があり、STEM−EELS 研究では、試料のある局所領域しか一度に分析できません。１回のSTEM-EELS観察で数十マイクロメーター(μm; nmの1,000倍)の薄膜全固体電池試料断面全体の反応変化を詳細でかつ総合的に可視化することは困難で、これまでその様な報告例はありませんでした。しかし、今回の放射光を用いた顕微分光イメージング法では、比較的高い空間分解能を維持しながら、各構成要素を個別に分析できるだけでなく、厚い電池試料全体を同時に観察しながら各元素の反応・劣化挙動を分析することが可能なため、STEM−EELSでの課題を解決できます。

　本研究では、SPring-8の分光分析ビームラインBL37XUに設置されている、全視野結像型透過X線顕微鏡(TXM)システムを用いて、分光計測であるX線吸収微細構造(XAFS)法と連動させたTXM−XAFS測定を薄膜型全固体電池試料に適用しました。今回、試料の薄膜型全固体電池には、Li_1+x+yAlxTi_2-xSiyP_3-yO₁₂ (LATP)という固体電解質のシート(50 μm厚)上に、コバルト酸リチウム(LiCoO₂、以下LCO)を正極層(1.41 μm厚)、三モリブデン酸二鉄(Fe₂(MoO₄)₃、以下FMO)を負極層(1.15 μm厚)として積層させたものを用いました。本研究では薄膜電池試料の断面から、正極・固体電解質・負極の積層構造を観察するのですが、薄膜電池そのままでは、透過力の高い硬X線を使用するとはいえ、断面方向の光路長が長すぎますので、集光イオンビーム加工装置(FIB)を用いて、事前に薄膜電池の観察領域を電池の機能を損なわないよう注意深く18〜20 μm幅に切断加工しました。この18〜20 μm幅が断面方向から観察したときそのままX線の光路長となります(図1左)。この加工した試料を、SPring-8 BL37XUに持ち込み、試料をポテンショ･ガルバノスタットと接続した上で、充放電状態を段階的に可変しながら、TXM−XAFSのオペランド計測をCo K吸収端 (7.7 keV付近) 及びFe K吸収端(7.1 keV付近)で行いました。TXM−XAFS計測では直径60 μm 程度の視野サイズを同時に〜100 nmの空間分解能で観察することが可能で、今回の場合、薄膜電池試料の厚さのスケールとマッチしており正極・負極の構造を同一視野で観察可能ということになります(図1右)。

 

東北大学国際放射光イノベーション・スマート研究センター（兼務：東北大学多元物質科学研究所）
助教　石黒 志（いしぐろ のぞむ）
TEL：022-217-5818
E-mail：nozomu.ishiguro.c1*tohoku.ac.jp

 

東北大学国際放射光イノベーション・スマート研究センター（兼務：東北大学多元物質科学研究所、東北大学金属材料研究所）
教授　高橋 幸生（たかはし ゆきお）
TEL：022-217-5166
E-mail：ytakahashi*tohoku.ac.jp
 

東北大学多元物質科学研究所 広報情報室
TEL: 022-217-5198
E-mail: press.tagen*grp.tohoku.ac.jp

 

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