研究者プロフィール
客員教授 Visiting Professor
松田 巌 MATSUDA Iwao 教授
本務：東京大学物性研究所
- 研究テーマ
-
- 先端オペランド計測による材料機能の解明
- インフォマティクスに基づく物質合成の革新的開発
- 単原子層の物理と化学
- X線非線形分光学の創成
- 研究キーワード
- 放射光,X線自由電子レーザー,高次高調波レーザー,オペランド実験,軟X線,原子層,非線形分光
- 研究概要
-
オペランド計測と物質合成に基づく新学理創成
高輝度放射光、X線自由電子レーザー、高次高調波レーザーを用いた軟X線先端分光の技術開発をし、原子層及び表面／界面系を中心に物性研究を行っている。 高分解能測定による電子状態の精密評価、機能性を探るオペランド計測、新たな観測手法の開拓、そして原子層及び表面物質の合成を実施している。これらの研究を包括的に展開することで、物質の対称性、次元性、トポロジーなどに基づく学理を構築及び創成している。放射光ビームラインにてX線吸収分光(NEXAFS)と光電子分光(XPS)をナノ〜マイクロ空間分解で測定できるエンドステーションを整備している。試料物質を構成する元素と化学状態(電子状態)を定量的に分析できるだけでなく、試料周りをガス雰囲気で満たした固気界面における化学反応のリアルタイム観測も可能にする。これらは触媒やエネルギー材料などの機能性分析や、化学・物理の先端物質の物性評価などに活用される。現在、これら「試料の精密オペランド計測」にインフォマティクス・ロボット技術を組み合わせることで「試料の合成法開発」もできるシステムを立ち上げている。将来的には「分析」と「物質合成」の垣根を越えた新しい放射光利用を実現する予定である。
オペランド実験のための雰囲気光電子分光ステーション
新規物質：ディラックノーダル線半金属の原子層
